Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыONICS31 Electronics / Электроника31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие

ÖVE/ÖNORM EN 62047-8:2012-02

Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011) (english version)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие