Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM E1127-24

Действует
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 6 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM E1829-14(2020)
Действует
Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis — 5 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E827-08
Отменен
Standard Practice for Identifying Elements by the Peaks in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2017) — 4 стр.
ASTM E996-19
Действует
Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy — 3 стр.
ASTM E1078-14(2020)
Действует
Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis — 10 стр.
ASTM E1577-11
Отменен
Standard Guide for Reporting of Ion Beam Parameters Used in Surface Analysis (Withdrawn 2020) — 3 стр.
ASTM E673-03
Отменен
Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012) — 10 стр.
ASTM E684-04
Заменен
Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces (Withdrawn 2012) — 2 стр.
ASTM E1634-11(2019)
Действует
Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements — 3 стр.
ASTM E1127-08(2015)
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024) — 5 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM E684-04
Заменен
Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces (Withdrawn 2012) — 2 стр.
ASTM E2735-14(2020)
Действует
Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Experiments — 6 стр.
ASTM E1636-10
Отменен
Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019) — 8 стр.
ASTM E1078-14(2020)
Действует
Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis — 10 стр.
ASTM E1127-08(2015)
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024) — 5 стр.
ASTM E996-19
Действует
Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy — 3 стр.
ASTM E1127-03
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 5 стр.
ASTM E1127-08
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 5 стр.
ASTM E1127-91(1997)
Заменен
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy — 4 стр.