Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ASTM
ASTM F1619-95(2000)e1
Отменен
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with <i>p</i>-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle (Withdrawn 2003)
— 7 стр.
Описание
Ссылки
Версии
ASTM F1619-95(2000)
Заменен
ASTM F1619-95(2000)e1
Отменен