Стандарты ASTM

ASTM F471-76(1996)

Заменен

Standard Terminology Relating to Combination Locks — 2 стр.

Описание Ссылки Версии

Ссылочные документы

ASTM F471-76(2002)

Отменен

Standard Terminology Relating to Combination Locks (Withdrawn 2011) — 2 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 50446:1995-09

Отменен

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers — 10 стр.

DIN 50434:1986-02

Отменен

Testing of materials for semiconductor technology; detection of crystal defects in monocrystalline silicon using etching techniques on {111} and {100} surfaces — 9 стр.

ASTM F471-76(2002)

Отменен

Standard Terminology Relating to Combination Locks (Withdrawn 2011) — 2 стр.