Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
17/30352696 DC
Действует
BS IEC 62047-31. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 31. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials
— 14 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии