Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

17/30352696 DC

Действует
BS IEC 62047-31. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 31. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials — 14 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
17/30352696 DC
Действует