Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 62047-8:2011

Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films — 22 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 62047-2:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials — 25 стр.
IEC 62047-3:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing — 15 стр.
BS EN 62047-2:2006
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials — 16 стр.
BS EN 62047-3:2006
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Thin film standard test piece for tensile testing — 12 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 62047-22:2014
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates — 12 стр.
BS EN 62047-21:2014
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials — 16 стр.
BS EN 62047-10:2011
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Micro-pillar compression test for MEMS materials — 16 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 62047-22:2015-06
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) (english version)
ÖVE/ÖNORM EN 62047-21:2015-06
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson`s ratio of thin film MEMS materials (IEC 62047-21:2014) (english version)
ÖVE/ÖNORM EN 62047-10:2012-05
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (IEC 62047-10:2011) (english version)