BS IEC 62047-29:2017

Действует

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature — 14 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие

31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом