Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS IEC 62047-29:2017
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
— 14 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
BS IEC 62047-29:2017
Действует