Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50440:1998-11

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50440-1:1981-11
Отменен
DIN 50440:1998-11
Отменен