Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50431:1988-05
Отменен
Testing of semiconductor materials; measurement of the resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four probe/direct current method with collinear array
— 5 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии