Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50431:1988-05

Отменен
Testing of semiconductor materials; measurement of the resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four probe/direct current method with collinear array — 5 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50431:1980-09
Отменен
DIN 50431:1988-05
Отменен
DIN 50431:1988-05
Отменен