Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-20:2002/COR1:2003 ed1.0

Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat — 0 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC 60749-20:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
IEC 60749-20:2008 ed2.0
Заменен
IEC 60749-20:2020 ed3.0
Действует