Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-20:2008 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
— 53 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC 60749-20:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
IEC 60749-30:2005 ed1.0
Заменен
IEC 60754-2:1991/AMD1:1997 ed1.0
Заменен
IEC PAS 62182:2000 ed1.0
Заменен
IEC 60749-20:2008 ed2.0
Заменен
IEC 60749-20:2020 ed3.0
Действует
