Стандарты IEC

IEC 60749-22:2002/COR1:2003 ed1.0

Действует

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength — 0 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-22:2002 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength — 41 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-22:2002 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength — 41 стр.

BS EN 62435-5:2017

Действует

Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Die and wafer devices — 24 стр.

PD IEC/TS 62686-1:2015

Действует

Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.

18/30386178 DC

Действует

BS EN 62787. Concentrator photovoltaic (CPV) solar cells and cell-on-carrier (COC) assemblies. Reliability qualification — 33 стр.