Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-3:2002 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-3:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 11 стр.
IEC 60749-28:2017 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level — 97 стр.
IEC PAS 62163:2000 ed1.0
Заменен
External visual test method — 3 стр.
IEC 60749-3:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 0 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-3:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 11 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-34:2011-07
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) (english version)
ÖVE/ÖNORM EN 60749-20:2010-05
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008) (english version)
IEC 60749-3:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 0 стр.
IEC PAS 62163:2000 ed1.0
Заменен
External visual test method — 3 стр.