Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-37:2008 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer — 39 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии