Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-37:2008 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
— 39 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC PAS 62050:2004 ed1.0
Заменен
IEC 60749-10:2002 ed1.0
Заменен
IEC PAS 62186:2000 ed1.0
Заменен
IEC 60794-3-40:2008 ed1.0
Заменен
IEC 60749-37:2008 ed1.0
Заменен
IEC 60749-37:2022 ed2.0
Действует
