IEC 60749-43:2017 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans — 74 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 63287-1:2021 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification — 86 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-6:2017-11

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017 — 9 стр.

BS EN 60749-6:2017

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature — 12 стр.

IEC 63287-1:2021 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification — 86 стр.