Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

IEC 60749-43:2017 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans — 74 стр.
IEC 60749-43:2017 ed1.0
Заменен
IEC 63287-1:2021 ed1.0
Действует