Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-8:2002 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing — 31 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-8:2002/COR2:2003 ed1.0
Действует
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing — 0 стр.
IEC 60749-8:2002/COR1:2003 ed1.0
Действует
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing — 0 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 62149-2:2010-05
Отменен
Fibre optic active components and devices - Performance standards - Part 2:850 nm discrete vertical cavity surface emitting laser devices (IEC 62149-2:2009); German version EN 62149-2:2009 — 21 стр.
IEC 60749-8:2002/COR2:2003 ed1.0
Действует
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing — 0 стр.
IEC 60749-8:2002/COR1:2003 ed1.0
Действует
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing — 0 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 62572-3:2015-06
Заменен
Fibre optic active components and devices - Reliability standards - Part 3: Laser modules used for telecommunication (IEC 62572-3:2014) (english version)