Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ed2.0
Заменен
Amendment 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
— 63 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60749-36:2003 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
— 7 стр.
IEC PAS 62207:2000 ed1.0
Заменен
Hermeticity
— 16 стр.
IEC PAS 62190:2000 ed1.0
Заменен
Moisture/reflow sensivity classification for nonhermetic solid state surface mount devices
— 19 стр.
IEC PAS 62191:2000 ed1.0
Заменен
Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components
— 16 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 60749-1:2002 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
— 15 стр.
IEC PAS 62190:2000 ed1.0
Заменен
Moisture/reflow sensivity classification for nonhermetic solid state surface mount devices
— 19 стр.
IEC PAS 62191:2000 ed1.0
Заменен
Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components
— 16 стр.
IEC PAS 62207:2000 ed1.0
Заменен
Hermeticity
— 16 стр.
