Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749:1996 ed2.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
— 95 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60749-36:2003 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
— 7 стр.
IEC 60749:1984/AMD2:1993 ed1.0
Заменен
Amendment 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 31 стр.
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ed1.0
Заменен
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 33 стр.
IEC 60749:1984 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 59 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 60749-1:2002 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
— 15 стр.
BS EN 61751:1998
Действует
Laser modules used for telecommunication. Reliability assessment
— 40 стр.
BS EN 61192-4:2003
Действует
Workmanship requirements for soldered electronic assemblies. Terminal assemblies
— 34 стр.
BS IEC 62679-1-1:2014
Действует
Electronic paper displays. Terminology
— 14 стр.
BS IEC 60300-3-7:1999
Действует
Dependability management. Application guide. Application guide. Reliability stress screening of electronic hardware
— 38 стр.
BS IEC 60748-2-12:2001
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Blank detail specification for programmable logic devices (PLDs)
— 30 стр.
BS IEC 60748-2-11:1999
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Blank detail specification for single supply integrated circuit, electrically erasable, and programmable read-only memory
— 22 стр.
BS EN 61643-341:2001
Действует
Low voltage surge protective devices. Specification for thyristor surge suppressors (TSS)
— 68 стр.
BS EN 61643-321:2002
Действует
Low voltage surge protective devices. Specifications for avalanche breakdown diode (ABD)
— 20 стр.
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ed1.0
Заменен
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 33 стр.
IEC 60749:1984/AMD2:1993 ed1.0
Заменен
Amendment 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 31 стр.
IEC 60749:1984 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
— 59 стр.
