Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62163:2000 ed1.0

Заменен
External visual test method — 3 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-3:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-3:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.