Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62181:2000 ed1.0
Заменен
IC latch-up test
— 19 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Establishes a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.
Заменен на
IEC 60749-29:2003 ed1.0