Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62181:2000 ed1.0
Заменен
IC latch-up test
— 19 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60749-29:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
— 41 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 60749-29:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
— 41 стр.
