ÖVE/ÖNORM EN 60749-34:2011-07

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010) (english version)

Ссылочные документы

Действует

Semiconductor devices - Part 1: General — 89 стр.

Заменен

Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes — 129 стр.

Заменен

Semiconductor devices - Part 6: Thyristors — 335 стр.

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life — 17 стр.

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 16 стр.

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.