Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50434:1976-01
Отменен
Testing of semi-conducting inorganic materials; estimation of the crystal perfection of monocrystalline silicon samples on etched {111} surfaces
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Заменен на
DIN 50434:1986-02
