Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50434:1976-01

Отменен
Testing of semi-conducting inorganic materials; estimation of the crystal perfection of monocrystalline silicon samples on etched {111} surfaces — 7 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50434:1976-01
Отменен
DIN 50434:1986-02
Отменен