Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62162:2000 ed1.0

Заменен
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components — 7 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии