Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62162:2000 ed1.0
Заменен
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC PAS 62162:2000 ed1.0
Заменен
IEC 60749-28:2017 ed1.0
Заменен
IEC 60749-28:2022 ed2.0
Действует
