Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
IEC PAS 62162:2000 ed1.0
Заменен
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60749-28:2017 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
— 97 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 60749-28:2017 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
— 97 стр.
IEC TR 62153-4-1:2010 ed2.0
Заменен
Metallic communication cable test methods - Part 4-1: Electromagnetic compatibility (EMC) - Introduction to electromagnetic (EMC) screening measurements
— 72 стр.