Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-34:2004 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling — 21 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-34:2010 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling — 21 стр.
IEC PAS 62206:2000 ed1.0
Заменен
Power and temperature cycling — 5 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-34:2010 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling — 21 стр.
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life — 12 стр.
BS IEC 60747-8:2010
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors — 78 стр.
PD IEC/TS 62686-1:2015
Действует
Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.
BS IEC 60747-2:2016
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Rectifier diodes — 48 стр.
BS EN 60747-15:2012
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Isolated power semiconductor devices — 28 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60747-15:2012-10
Действует
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010) (english version)
ÖVE/ÖNORM EN 60749-23:2011-09
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) (english version)
IEC PAS 62206:2000 ed1.0
Заменен
Power and temperature cycling — 5 стр.